SN74BCT8244ADWE4 - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

製造商零件編號

內部零件號

製造商

簡要描述;簡介

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

RoHS狀態

無鉛/符合RoHS

交貨時間

1-2天

可用數量

50350 Pieces

參考價

~~USD 6.19488~~

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付款方式:: Paypal (Credit Card); Bank Transfer (Wire Transfer); Western Union; MoneyGram

質量保證 : 365天保修

庫存資源 : 特許經銷商/製造商直銷

出生國家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

零件號 : SN74BCT8244ADWE4

製造商 : Texas Instruments

描述 : IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

系列 : 74BCT

零件狀態 : Active

邏輯類型 : Scan Test Device with Buffers

電源電壓 : 4.5V ~ 5.5V

比特數 : 8

工作溫度 : 0°C ~ 70°C

安裝類型 : Surface Mount

封裝/箱體 : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

供應商設備封裝 : 24-SOIC

重量 : -

條件 : 新的和原始的

相關鏈接 : SN74B , SN74BCT8

數據表 : SN74BCT8244ADWE4.pdf