SN74BCT8373ANT - IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

製造商零件編號

內部零件號

製造商

簡要描述;簡介

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

RoHS狀態

無鉛/符合RoHS

交貨時間

1-2天

可用數量

16000 Pieces

參考價

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質量保證 : 365天保修

庫存資源 : 特許經銷商/製造商直銷

出生國家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

零件號 : SN74BCT8373ANT

製造商 : Texas Instruments

描述 : IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

系列 : 74BCT

零件狀態 : Obsolete

邏輯類型 : Scan Test Device with D-Type Latches

電源電壓 : 4.5V ~ 5.5V

比特數 : 8

工作溫度 : 0°C ~ 70°C

安裝類型 : Through Hole

封裝/箱體 : 24-DIP (0.300", 7.62mm)

供應商設備封裝 : 24-PDIP

重量 : -

條件 : 新的和原始的

相關鏈接 : SN74 , SN74BCT