SN74BCT8374ADWR - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

製造商零件編號

內部零件號

製造商

簡要描述;簡介

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

RoHS狀態

無鉛/符合RoHS

交貨時間

1-2天

可用數量

39072 Pieces

參考價

~~USD 0~~

我們的價格

-（請以更優惠的價格與我們聯繫：[email protected]）

AX Semiconductor有SN74BCT8374ADWR的庫存可出售。我們可以在1-2天內寄給您。請聯繫我們以獲得SN74BCT8374ADWR的更優惠價格。我們的電子郵件：[email protected]

運送方式和運送時間:: DHL: 2-3 days.; FEDEX: 2-3 days.; UPS: 2-4 days.; TNT: 3-5 days.; EMS: 5-8 days.; Normal Post: 10-15 days.

付款方式:: Paypal (Credit Card); Bank Transfer (Wire Transfer); Western Union; MoneyGram

質量保證 : 365天保修

庫存資源 : 特許經銷商/製造商直銷

出生國家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

零件號 : SN74BCT8374ADWR

製造商 : Texas Instruments

描述 : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

系列 : 74BCT

零件狀態 : Obsolete

邏輯類型 : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

電源電壓 : 4.5V ~ 5.5V

比特數 : 8

工作溫度 : 0°C ~ 70°C

安裝類型 : Surface Mount

封裝/箱體 : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

供應商設備封裝 : 24-SOIC

重量 : -

條件 : 新的和原始的

相關鏈接 : SN74B , SN74BCT

數據表 : SN74BCT8374ADWR.pdf