SN74LVTH182512DGGR - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

製造商零件編號

內部零件號

製造商

簡要描述;簡介

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

RoHS狀態

無鉛/符合RoHS

交貨時間

1-2天

可用數量

117070 Pieces

參考價

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付款方式:: Paypal (Credit Card); Bank Transfer (Wire Transfer); Western Union; MoneyGram

質量保證 : 365天保修

庫存資源 : 特許經銷商/製造商直銷

出生國家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

零件號 : SN74LVTH182512DGGR

製造商 : Texas Instruments

描述 : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

系列 : 74LVTH

零件狀態 : Active

邏輯類型 : ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

電源電壓 : 2.7V ~ 3.6V

比特數 : 18

工作溫度 : -40°C ~ 85°C

安裝類型 : Surface Mount

封裝/箱體 : 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

供應商設備封裝 : 64-TSSOP

重量 : -

條件 : 新的和原始的

相關鏈接 : SN74LV , SN74LVTH1